Федеральное государственное бюджетное учреждение науки

БАЙКАЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИРОДОПОЛЬЗОВАНИЯ

Сибирского отделения Российской академии наук

адрес: 670047,
респ. Бурятия, г. Улан-Удэ,
ул. Сахьяновой, 6
Тел.: (3012) 43-36-76,
43-33-80, 43-41-15,
Факс: (3012) 43-47-53
E-mail: info@binm.ru
↑ Наверх ↑

ФАНО
РАН
СО РАН
РНФ
РФФИ
КИАС РФФИ
Интернет-портал RSCI.RU
http://www.sbras.ru
http://www.sbras.nsc.ru/press/
http://baikalgis.com
BIC
http://fd03.ru


ИНФОРМЕРЫ

Яндекс.Метрика
Яндекс цитирования
Рейтинг@Mail.ru





Рентгеновский дифрактометр D8 Advance

Рентгеновский дифрактометр D8 Advance фирмы BRUKER AXS GmbH, Karsruhe (Германия, 1998 г.в.).

Рентгеновская дифрактометрия является неразрушающим методом анализа веществ в твердом, порошковом или кристаллическом виде: металлов, минералов, синтетических материалов, полимеров, катализаторов, фармацевтических продуктов, тонких пленок и слоев, керамики.

Назначение прибора

Порошковый рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE измеряет зависимость интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных порошкообразными образцами, плёнками, стёклами, ориентированными монокристаллами и т.д., от угла дифракции 2θ при комнатной температуре. Тем самым определяет фазовый состав и параметры кристаллической решетки образца методом рентгеновской дифракции.

Прибор предназначен для количественного и качественного рентгенофазового анализа. Для качественного анализа используется банк данных порошковых рентгенограмм PDF-2 органических, неорганических, минеральных и синтетических соединений. Количественное соотношение фаз определяется в программе TOPAS 4.2 в результате уточнения методом Ритвельда.

Неизвестные соединения, порошковые рентгенограммы которых отсутствуют в базах данных, могут быть проиндицированы и параметры ячеек определены в программах ITO, WTREOR, TOPAS 4.2, DASH 3.3. Рентгенограмма однофазного соединения после успешного индицирования позволяет определить симметрию и структуру соединения (типы ионов/атомов и их взаимное расположение), а также провести её уточнение методом Ритвельда, построить модель электронной плотности кристалла с целью выявления беспорядка в структуре.

Полуширины измеренных рефлексов используются для определения размеров кристаллитов и микронапряжений в образце, а отношение интегральной интенсивности рефлексов к полной интенсивности рентгенограммы дает степень кристалличности образца.

Линейный детектор VÅNTEC-1, которым снабжен дифрактометр, одновременно измеряет интенсивности всех точек в угловом диапазоне 6º. Это позволяет повысить точность и уменьшить время анализа образца по сравнению с обычным точечным детектором. Люминесцентный детектор регистрирует дифракционную картину рассеяния кристаллом рентгеновского излучения. Автоматический режим сбора данных и дальнейшая обработка результатов программным пакетом DIFFRACplus.


Основные технические характеристики прибора

  • Используемое излучение: CuKα (40kV; 40mA);
  • Детектор: точечный сцинтилляционный или линейный VANTEC-1 (захват интервала 2θ в 6°);
  • Типы возможных образцов: монокристаллы, поликристаллы, керамика, песок, пленки, полимеры, ситаллы, стекла;
  • Геометрия: Брегга-Брентано, максимально возможный угловой интервал 5º<2θ<140º;
  • Имеется температурная приставка Anton Paar. Интервал температур от 300 до 1200 K.
  • Конфигурация: Θ–2Θ
  • Точность установки углов: 0,005°
  • Минимальный шаг углов съемки: 0,0069°
  • Режим съёмки: пошаговый или непрерывный
  • Движение образца: статическое или вращение
  • Держатель образца: пластиковая кювета, стальная кювета, монокристаллическая кремниевая кювета, монокристаллическая кремниевая кювета с выемкой

Метрологическое обеспечение

Не проводилось.

Области применения прибора

Химия, металлургия, геология, криминалистика, строительство, медицина.

  • Исследование фазового состава кристаллических или поликристаллических порошковых образцов.
  • Поиск структур органических, неорганических и металлорганических соединений из порошка.
  • Уточнение параметров кристаллической решетки по прототипу методом Ритвельда.
  • Исследование эпитаксиальных плёнок (параметры ячеек, преимущественная ориентация, размеры кристаллитов).

Требования к образцам исследования

  • Порошковые образцы для стандартных кювет должны быть хорошо перетертыми, со средним размером кристаллитов до 100 мкм. Объем образца 0,2-0,5 см3. Порошок должен быть не гигроскопичен, стабилен и не разлагаться как минимум в течении 2 часов.
  • Порошковые образцы для плоской кюветы приготавливается методом присыпки, и могут иметь объем меньше до 0,2 см3. После эксперимента образец загрязняется органической примесью и его практически невозможно вернуть исследователю для других анализов.
  • Полимерные плёнки или эпитаксиальные плёнки должны иметь относительно ровную поверхность и площадь не менее 0,5 см2, максимальный линейный размер не более 3 см.
  • Монокристаллы для ориентирования должны иметь естественные грани или очень точно выверенные и гладко отполированные плоскости. Минимальный линейный размер 0,5 мм, максимальный - 3 см.

Время, необходимое на измерение и обработку результатов

  • минимальное время съемки одного образца: 3 мин;
  • максимальное время съемки одного образца: не ограничено;
  • время непрерывной съемки серии образцов: не ограниченно;
  • среднее время анализа(расшифровки) одного образца: 10 минут;
  • время исполнения заказа: согласно графику работ.

Расходные материалы

  • Органические растворители для очистки кювет от загрязнений и нанесения микроколичеств образца на плоскость монокристаллического кремния

Форматы данных, выдаваемых прибором

  • Исходный (*.raw), текстовый (*.txt) и графический (*.pdf, *.doc, *.jpg, *.png)
  • способы выдачи информации для заказчика:
    • флеш-память,
    • электронная почта,
    • распечатка.

Процедура подачи образца на измерения

Подача заявки производится путем отправки заполненного образца заявки через электронную почту.

Услуги и их стоимость

Стоимость оказания услуг сторонним организациям и физическим лицам определяется с учетом возмещения амортизации используемого оборудования, возмещения стоимости израсходованных материалов в соответствии с условиями договора, накладных расходов Института и заработной платы персонала, выполняющего работу.

  • Возможен ли допуск к самостоятельной работе на оборудовании: Доступ не предусмотрен
  • Порядок доступа к оборудованию для самостоятельной работы, после прохождения пользователем аттестации для работы на приборе: Доступ не предусмотрен


Copyright 2010-2021 © Байкальский институт природопользования СО РАН.
admin@binm.ru    binmsbras@mail.ru    Skype    Вконтакте     Иконка